高精度、多通道探針安裝的位移和厚度測量感測器

nXV-1使用干涉法來測量精確的位移和厚度。內嵌式設計使其能夠實時測量。測量探針安裝在機器人上，使其能夠在移動中進行測量並用於各種測量任務。此外，由於可以進行薄膜分離，它可以精確分離表面並提供可靠的測量值和數據，無論表面上有什麼塗層。 通過使用不同波長的光源，nXV-1可以測量透明產品（如薄膜和玻璃）以及不透明或粗糙的產品（如矽晶圓和藍寶石晶片）的厚度。它可以用於厚度難以測量的產品，例如二次電池（密封厚度）和PCB表面塗層。